Sistema automático para determinar estructuras cristalinas por difracción de rayos-X
Se desarrolla en este trabajo un sistema de calculo para la determinación de estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. Las caracteristicas de este sistema son: Incorporar los métodos y las técnicas más recientes. Obtener la máxima velocidad de ejecución posible. Obtener la total automatizac...
| Autores: | , |
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| Formato: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 1978 |
| País: | España |
| Recursos: | Universidad de Barcelona |
| Repositorio: | Dipòsit Digital de la UB |
| OAI Identifier: | oai:diposit.ub.edu:2445/18191 |
| Acesso em linha: | https://hdl.handle.net/2445/18191 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | Estructura cristal·lina (Sòlids) Raigs X Radiocristal·lografia Layer structure (Solids) X-rays X-ray crystallography |
| Resumo: | Se desarrolla en este trabajo un sistema de calculo para la determinación de estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. Las caracteristicas de este sistema son: Incorporar los métodos y las técnicas más recientes. Obtener la máxima velocidad de ejecución posible. Obtener la total automatización del proceso. Y conseguir la mínima ocupacion de memoria posible. |
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