Reliability of Logic-in-Memory Circuits in Resistive Memory Arrays

Producción Científica

Detalles Bibliográficos
Autores:	Zanotti, Tommaso, Zambelli, Cristian, Puglisi, Francesco Maria, Milo, Valerio, Pérez Díez, Eduardo, Mahadevaiah, Mamathamba K., González Ossorio, Óscar, Wenger, Christian, Pavan, Paolo, Olivo, Piero, Ielmini, Daniele
Tipo de recurso:	artículo
Estado:	Versión aceptada para publicación
Fecha de publicación:	2020
País:	España
Institución:	Universidad Pontificia Comillas ICAI-ICADE
Repositorio:	UVaDOC. Repositorio Documental de la Universidad de Valladolid
OAI Identifier:	oai:uvadoc.uva.es:10324/45369
Acceso en línea:	https://doi.org/10.1109/TED.2020.3025271 http://uvadoc.uva.es/handle/10324/45369
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Memoria RAM resistiva (RRAM) Resistive RAM memory (RRAM)

Descripción
Sumario:	Producción Científica