Condution mechanisms and charge trapping control in SiO2 nanoparticle MIM capacitors

© <2020>. This manuscript version is made available under the CC-BY-NC-ND 4.0 license http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/

Detalles Bibliográficos
Autores: Bheesayagari, Chenna Reddy, Pons Nin, Joan|||0000-0002-0356-5678, Orpella García, Alberto|||0000-0003-2726-5861, Véliz Noboa, Bremnen Marino, Bermejo Broto, Sandra|||0000-0003-1660-0273, Domínguez Pumar, Manuel|||0000-0001-5439-7953
Tipo de recurso: artículo
Fecha de publicación:2020
País:España
Institución:Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Repositorio:UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Idioma:inglés
OAI Identifier:oai:upcommons.upc.edu:2117/191726
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/2117/191726
https://dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2020.136202
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Electrochemistry
MIM capacitors
Silica nanospheres
Charge control
Electrospray
Sigma-delta control
Electroquímica
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria química::Química física::Electroquímica
Descripción
Sumario:© <2020>. This manuscript version is made available under the CC-BY-NC-ND 4.0 license http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/

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