Caracterización eléctrica de transistores basados en nitruros

Los transistores más rápidos se consiguen gracias al crecimiento de diferentes semiconductores apilados. Entre los semiconductores es posible confinar una elevada concentración de electrones de alta movilidad, dando lugar a transistores con gran velocidad de respuesta. Cuando se emplea el sistema Al...

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Detalles Bibliográficos
Autores: González, B., Gámiz Pérez, Francisco, Tirado Martín, José María, García García, Javier
Tipo de recurso: artículo
Fecha de publicación:2007
País:España
Repositorio:accedaCRIS portal de investigación de la Universidad de las Palmas de Gran Canaria
OAI Identifier:oai:accedacris.ulpgc.es:10553/6662
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/10553/6662
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:330719 Transistores
Descripción
Sumario:Los transistores más rápidos se consiguen gracias al crecimiento de diferentes semiconductores apilados. Entre los semiconductores es posible confinar una elevada concentración de electrones de alta movilidad, dando lugar a transistores con gran velocidad de respuesta. Cuando se emplea el sistema AlGaN/GaN, los enlaces interatómicos poseen un elevado carácter iónico. Estos iones generan intensos campos eléctricos internos, que inducen entre el AlGaN y el GaN una concentración de electrones de 1013 cm-2, un orden de magnitud superior a la alcanzada con otras estructuras típicas (AlGaAs/GaAs, AlGaAs/InGaAs/GaAs, GaInP/InGaAs/GaAs, etc.). En este artículo se expone un análisis de los aspectos fundamentales relacionados con la distribución de los electrones bajo la puerta de los transistores basados en nitruros.