Sistema autónomo de detección y almacenamiento de errores por sucesos aislados en SRAMs

En esta contribución se explica el diseño, fabricación y verificación experimental de un sistema automático de lectura y escritura de memorias SRAM cuyo objeto es la determinación de la tasa de errores asociados a la acción de los rayos cósmicos e impurezas radiactivas en esa tecnología de fabricaci...

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Detalles Bibliográficos
Autores: Amigo de la Huerga, Ángel, Palomar Trives, Carlos, Franco Peláez, Francisco Javier, López Calle, Isabel, Cervera, María Fe, Hernández Cachero, Antonio, Agapito Serrano, Juan Andrés
Tipo de recurso: capítulo de libro
Fecha de publicación:2013
País:España
Institución:Universidad Complutense de Madrid (UCM)
Repositorio:Docta Complutense
Idioma:español
OAI Identifier:oai:docta.ucm.es:20.500.14352/35719
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.14352/35719
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:537.8
Fiabilidad
Circuitos integrados
Sistemas autónomos
Electrónica (Física)
Radiactividad
2203.07 Circuitos Integrados
Descripción
Sumario:En esta contribución se explica el diseño, fabricación y verificación experimental de un sistema automático de lectura y escritura de memorias SRAM cuyo objeto es la determinación de la tasa de errores asociados a la acción de los rayos cósmicos e impurezas radiactivas en esa tecnología de fabricación. Se ha concebido este sistema para que se pudiera construir en una placa de reducidas dimensiones y que, de este modo, pudiera transportarse en la cabina de un avión durante vuelos comerciales.

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