Uma biblioteca UVM de injeção de falhas aprimorada aplicada à verificação do roteador de uma NoC.
A crescente complexidade do design e verificação de chips ampliou a necessidade de metodologias de verificação robustas para garantir confiabilidade em sistemas modernos. A Metodologia Universal de Verificação (UVM Universal Verification Methodology) se tornou um padrão amplamente adotado para verif...
| Autor: | |
|---|---|
| Tipo de recurso: | tesis de maestría |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2025 |
| País: | Brasil |
| Institución: | Universidade de São Paulo (USP) |
| Repositorio: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP |
| Idioma: | portugués |
| OAI Identifier: | oai:teses.usp.br:tde-06052025-082513 |
| Acceso en línea: | https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-06052025-082513/ |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Fault injection Functional verification Microeletrônica NoC Redes-em-chip Router Simulation Sistemas digitais Tolerância a falhas UVM UVM-FI UVM-FIE Verificação funcional XINA |
| Sumario: | A crescente complexidade do design e verificação de chips ampliou a necessidade de metodologias de verificação robustas para garantir confiabilidade em sistemas modernos. A Metodologia Universal de Verificação (UVM Universal Verification Methodology) se tornou um padrão amplamente adotado para verificação funcional na indústria de semicondutores, permitindo o desenvolvimento estruturado de testbenches para efetiva simulação de designs. No entanto, o UVM não tem suporte nativo para injeção de falhas por software baseada em simulação, um recurso essencial para validar tolerância a falhas e confiabilidade em sistemas críticos de segurança. Para abordar essa lacuna, o UVM-FI, uma biblioteca pioneira que integra recursos de injeção de falhas em ambientes UVM, foi introduzido. Embora o UVM-FI tenha se mostrado promissor, sua aplicabilidade foi limitada a certos tipos de designs, destacando a necessidade de melhorias adicionais para ampliar seu escopo e funcionalidade. Com base nesse trabalho, a biblioteca UVM-FI original foi estendida, resultando no UVM-FIE, que introduz dois recursos principais: o SystemC Code Converter e o Random Fault Injector. Essas melhorias visam ampliar a aplicabilidade das técnicas de injeção de falhas em ambientes UVM. Esta dissertação tem como objetivo a verificação de um roteador de uma Rede-em-Chip (NoC) com o UVM-FIE, uma biblioteca com recursos aprimorados de injeção de falhas. Utilizando como estudo de caso a NoC XINA, o trabalho explora metodologias de injeção de falhas, a arquitetura da NoC e os princípios do UVM, UVM-FI e do novo UVM-FIE. Para validar as melhorias propostas, um ambiente de verificação foi desenvolvido para o roteador da NoC XINA. Os resultados demonstram a eficácia do UVM-FIE na injeção de falhas, contribuindo para o avanço de técnicas de injeção de falhas baseadas em UVM. |
|---|