Propriedades opticas e eletricas de nanoestruturas de Si

Orientador: Jacobus Willibrordus Swart

Detalhes bibliográficos
Autor: Dias, Guilherme Osvaldo, 1973-
Formato: tesis doctoral
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2009
País:Brasil
Recursos:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
Repositorio:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
Idioma:portugués
OAI Identifier:oai::439558
Acesso em linha:https://hdl.handle.net/20.500.12733/1609014
Access Level:acceso abierto
Palavra-chave:Silício
Nanoestrutura
Silício - Propriedades óticas
Silício - Propriedades elétricas
Materiais - Propriedades elétricas
Silicon
Nanostructures
Silicon - Optical properties
Silicon - Electrical properties
Descrição
Resumo:Orientador: Jacobus Willibrordus Swart