Películas delgadas de semiconductores en medios acuosos
En este trabajo se determinan las propiedades electrónicas de películas delgadasde CdS en contacto con un electrolito acuoso, para lo cual se desarrolló la técnica deconductancia superficial in-situ y se demostró su aplicabilidad para el estudio de otraspelículas semiconductoras. Se desarrolló un mo...
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| Formato: | tesis doctoral |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 1999 |
| País: | Argentina |
| Recursos: | Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales |
| Repositorio: | Biblioteca Digital (UBA-FCEN) |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | tesis:tesis_n3170_Alcober |
| Acesso em linha: | https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n3170_Alcober |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | CONDUCTANCIA SUPERFICIAL PELICULAS DELGADAS INTERFAZ SEMICONDUCTOR/ELECTROLITO CDS SURFACE CONDUCTANCE POLYCRISTALLINE SEMICONDUCTORS SEMICONDUCTOR/ELECTROLYTE INTERFACE THIN FILMS |
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Películas delgadas de semiconductores en medios acuososAlcober, Carlos SantiagoCONDUCTANCIA SUPERFICIALPELICULAS DELGADASINTERFAZ SEMICONDUCTOR/ELECTROLITOCDSSURFACE CONDUCTANCEPOLYCRISTALLINE SEMICONDUCTORSSEMICONDUCTOR/ELECTROLYTE INTERFACETHIN FILMSEn este trabajo se determinan las propiedades electrónicas de películas delgadasde CdS en contacto con un electrolito acuoso, para lo cual se desarrolló la técnica deconductancia superficial in-situ y se demostró su aplicabilidad para el estudio de otraspelículas semiconductoras. Se desarrolló un modelo que describe la interfaz semiconductor policristalino /electrolito teniendo en cuenta explícitamente la presencia de barreras intergrano. Estemodelo describe la interfaz de las películas delgadas de CdS y fue aplicado para lainterpretación de los resultados experimentales. A partir de los datos de espectroscopía de impedancia electroquimica,transmitancia modulada y conductancia superficial se determinó el potencial de bandaplana, la densidad de portadores libres, la altura de barreras intergranos y sudependencia con el potencial.In this work, the electronic properties of thin CdS films in contact whit anaqueous electrolyte are determined. For this purpose, in-situ surface conductance wasdeveloped and its usefulness shown for other thin semiconductor films. A microscopicmodel that takes explicitly into account intergrain barriers in the electronic properties of CdS films in contact with an electrolyte was developed, and used in the interpretation ofthe experimental results. Using electrochemical impedance spectroscopy, modulated transmittance andsurface conductance, the flat band potential, free electron density and intergrain barrierheights and its dependence on potential were determined.Fil: Alcober, Carlos Santiago. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales; Argentina.Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y NaturalesAldabe, Sara de Bilmes1999info:eu-repo/semantics/doctoralThesisinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_db06info:ar-repo/semantics/tesisDoctoralapplication/pdfhttps://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n3170_Alcoberspainfo:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/arreponame:Biblioteca Digital (UBA-FCEN)instname:Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturalesinstacron:UBA-FCEN2024-05-10T10:40:47Ztesis:tesis_n3170_AlcoberInstitucionalhttps://digital.bl.fcen.uba.ar/Universidad públicaNo correspondehttps://digital.bl.fcen.uba.ar/cgi-bin/oaiserver.cgiana@bl.fcen.uba.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:18962024-05-10 10:40:48.61Biblioteca Digital (UBA-FCEN) - Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturalesfalse |
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