Análisis de sedimentos por fluorescencia de rayos x en energía dispersiva
Se ha analizado mediante Fluorescencia de Rayos X en Energía Dispersiva con excitación radioisotópica, una muestra desconocida de sedimento junto a un material de referencia, de matriz similar (SL-1/IAEA). Los errores observados fueron menores del 10% en la mayoría de los casos, excepto para el Ti....
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2003 |
| País: | Perú |
| Institución: | Instituto Peruano de Energía Nuclear |
| Repositorio: | IPEN-Institucional |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | oai:repositorio.ipen.gob.pe:20.500.13054/244 |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.13054/244 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Fluorescencia de rayos X Sedimentos Materiales de referencia normalizados |
| Sumario: | Se ha analizado mediante Fluorescencia de Rayos X en Energía Dispersiva con excitación radioisotópica, una muestra desconocida de sedimento junto a un material de referencia, de matriz similar (SL-1/IAEA). Los errores observados fueron menores del 10% en la mayoría de los casos, excepto para el Ti. Se utilizó una fuente anular de Cd-109 para la excitación de los elementos y un detector semiconductor de Si(Li), acoplado a una tarjeta multicanal incorporado en una PC para la detección de los rayos X característicos. Se ha usado el método de sensibilidad elemental para la determinación de concentraciones de los elementos presentes en rango de número atómico de 19 a 42 (k a Mo) mediante sus líneas K y de 50 a 93 (Sn a U), mediante sus líneas L. |
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