Determinación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5
En este trabajo se presenta el resultado de mediciones del índice de refracción en películas semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS) y oxido de titanio (Ti3O5), realizadas por los métodos de: ángulo de reflexión Brewster, espectros de transmisión y efecto de guía de ondas óptica.
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2001 |
| País: | Perú |
| Institución: | Universidad Nacional de Ingeniería |
| Repositorio: | UNI-Tesis |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | oai:cybertesis.uni.edu.pe:20.500.14076/14375 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/20.500.14076/14375 https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.516 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Índices de refracción Películas semiconductoras |
| Sumario: | En este trabajo se presenta el resultado de mediciones del índice de refracción en películas semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS) y oxido de titanio (Ti3O5), realizadas por los métodos de: ángulo de reflexión Brewster, espectros de transmisión y efecto de guía de ondas óptica. |
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