Uso del silicio poroso funcionalizado con acetilcolinesterasa como plataforma de detección de arsénico (III)
Sustratos nanoestructurados de silicio poroso funcionalizados con Acetilcolinesterasa (AChE) de dos diferentes diámetros de poro s (muestras circulares de 1.2 cm de diámetro), se evaluaron como plataforma de detección de arsénico (III). La inhibición de la actividad enzimática del AChE en presencia...
| Autores: | , |
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| Formato: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2017 |
| País: | México |
| Recursos: | Universidad Autónoma del Estado de Morelos |
| Repositorio: | Redalyc-UAEM |
| OAI Identifier: | oai:redalyc.org:40453142008 |
| Acesso em linha: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=40453142008 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | Ingeniería RIFTS Sensor silicio poroso detección de arsénico |
| Resumo: | Sustratos nanoestructurados de silicio poroso funcionalizados con Acetilcolinesterasa (AChE) de dos diferentes diámetros de poro s (muestras circulares de 1.2 cm de diámetro), se evaluaron como plataforma de detección de arsénico (III). La inhibición de la actividad enzimática del AChE en presencia de As (III) se usó para generar especięcidad en el sensor óptico de As pro - puesto. Previo al enlazamiento del AChE la superęcie de silicio poroso se modięcó a través de 3-aminopropil (dietoxi)-metil - silano, seguida de gluteraldehido y la proteína. Cada paso de la funcionalización se caracterizó por espectroscopia de UV-vis-NIR acoplada al accesorio de reĚectancia especular para monitorear el incremento del espesor óptico debido a la inęl - tración de las moléculas. La espectroscopia de FTIR mostró la presencia de enlaces amida I y II debidos al enlazamiento del AChE con el substrato de SiP. Un arreglo enzimático basado en el reactivo de Ellman se empleó para seguir la actividad enzi- mática de la AChE inmovilizada sobre SiP, así como su inhibición en presencia de As (III). El sistema de detección del progre- so de la reacción se basó en el cambio del espesor óptico efectivo de película revelado como el desplazamiento del espectro de reĚectancias (método referido como espectroscopia con transformada de Fourier del interferómetro de reĚectancia). La res - puesta óptica de las muestras de SiP modięcadas en presencia de As (III) se comparó con la muestra de control y reveló un límite de detección de 0.77 m M. |
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