Desarrollo de Software para Mediciones en Microscopía Electroquímica sobre Materiales Ferroeléctricos.
En este trabajo se presentan los avances y resultados del diseño e implementación del software de control de un sistema de medición para Microscopía Electroquímica ( SECM por sus siglas en inglés) que se está construyendo para realizar caracterizaciones sobre películas de materiales ferroeléctricos....
| Autores: | , |
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2008 |
| País: | México |
| Institución: | Instituto Politécnico Nacional |
| Repositorio: | Repositorio Digital del IPN |
| OAI Identifier: | oai:www.repositoriodigital.ipn.mx:123456789/11291 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/123456789/805 http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/11291 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | materiales ferroelectricos |
| Sumario: | En este trabajo se presentan los avances y resultados del diseño e implementación del software de control de un sistema de medición para Microscopía Electroquímica ( SECM por sus siglas en inglés) que se está construyendo para realizar caracterizaciones sobre películas de materiales ferroeléctricos. El software fue desarrollado en LabView v8.0 y en un lenguaje de control propio de la tarjeta controladora de movimiento Galil DMC-2133[1] utilizada en el sistema. |
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