Estudio comparativo en películas de sulfuro de cobre (CuS), crecidas mediante depósito en baño químico (DBQ) libre de amonio
En el presente trabajo se crecieron películas delgadas (~70 nm de espesor) de sulfuro de cobre (CuS) por el método depósito en baño químico (DBQ) utilizando citrato de sodio [Na3C3H5O (COO)3] como agente acomplejante. Una vez depositadas las películas se realizó su caracterización de composición quí...
| Autor: | |
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| Tipo de recurso: | tesis de maestría |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2015 |
| País: | México |
| Institución: | Centro de Investigación en Materiales Avanzados |
| Repositorio: | Fuente de Objetos Científicos Open Access del CIMAV |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | oai:cimav.repositorioinstitucional.mx:1004/101 |
| Acceso en línea: | http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/101 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | info:eu-repo/classification/cti/2 info:eu-repo/classification/cti/23 |
| Sumario: | En el presente trabajo se crecieron películas delgadas (~70 nm de espesor) de sulfuro de cobre (CuS) por el método depósito en baño químico (DBQ) utilizando citrato de sodio [Na3C3H5O (COO)3] como agente acomplejante. Una vez depositadas las películas se realizó su caracterización de composición química, estructural, morfológica, óptica, y eléctrica. Las películas se depositaron sobre substratos de vidrio tipo “Corning” adicionando soluciones molares dentro de un vaso de precipitado en el siguiente orden: 15 ml. CuCl2 (0.1M), 15 ml. Na3C3H5O (COO)3 (0.5M), “x” ml. KOH (0.5M), “y” ml. buffer base borato, 7.5 ml. CS(NH2)2 (0.5M) y c.b.p. 100 ml. de agua desionizada. Inicialmente las películas se depositaron a 25 °C con un pH de 09, 10 y 11 así “x” igual a 5, 3.5, 3 y “y” igual a 5, 9 y 7 ml. respectivamente. Para todo pH los patrones de difracción de rayos-x mostraron que las películas poseen una estructura amorfa. Los espectros Raman mostraron una vibración S-S cerca de los 473 cm-1 característico del CuS, por otra parte los espesores obtenidos van desde los 48 hasta los 115 nm aproximadamente, siendo las películas depositadas a pH 11 las que mayores espesores mostraron. Finalmente las películas crecidas con un pH 10 (x=3.5 y y=9) se depositaron variando la temperatura entre 25 y 70 °C, obteniendo espesores entre 40 y 80 nm. El análisis mediante difracción de rayos-x mostró un pico alrededor de los 48 grados correspondiente al plano (110) reportado para la covelita. Por último el análisis químico mediante EDS mostro que el citrato de sodio actúa de manera controlada como agente acomplejante en un amplio rango de temperatura. |
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