Aplicación de un algoritmo basado en un "modelo de medición" para la detección de errores en la medidas experimentales de impedancia

Detalles Bibliográficos
Autor: RENE ANTAÑO LOPEZ
Tipo de recurso: tesis de maestría
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:1997
País:México
Institución:Universidad Autónoma Metropolitana
Repositorio:Repositorio Institucional de la UAM Iztapalapa
Idioma:español
OAI Identifier:oai:bindani.izt.uam.mx:zk51vh30x
Acceso en línea:https://doi.org/10.24275/uami.zk51vh30x
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:info:eu-repo/classification/LEM/Impedance (Electricity)
info:eu-repo/classification/LEM/Impedance spectroscopy
info:eu-repo/classification/LEM/Espectroscopía de impedancia
info:eu-repo/classification/LEM/Impedancia (Electricidad)
info:eu-repo/classification/cti/2
Descripción
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