Extracción del parámetro de Hooge para estimaciones del ruido en baja frecuencia
Se presenta un nuevo método de extracción del parámetro de Hooge basado en mediciones de alta y baja frecuencia. Se hace especial hincapié en el papel que tienen las capacitancias y resistencias electrostáticas en la precisión del parámetro de Hooge. Se demuestra este nuevo cálculo del parámetro en...
| Autores: | , , |
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2015 |
| País: | México |
| Institución: | Instituto Politécnico Nacional |
| Repositorio: | Redalyc-IPN |
| OAI Identifier: | oai:redalyc.org:61448039003 |
| Acceso en línea: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=61448039003 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Ingeniería ruido 1 HFET SiGe parámetro de Hooge ruido a baja frecuencia |
| Sumario: | Se presenta un nuevo método de extracción del parámetro de Hooge basado en mediciones de alta y baja frecuencia. Se hace especial hincapié en el papel que tienen las capacitancias y resistencias electrostáticas en la precisión del parámetro de Hooge. Se demuestra este nuevo cálculo del parámetro en el n-HFET Si/Si0.6Ge0.4 y se compara este valor con aquellos que han sido calculados por el método clásico. |
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