Caracterización de la microestructura de películas delgadas metálicas por microscopía electrónica de barrido por efecto túnel
Se describen los estudios realizados por la técnica de Microscopía de Tunelamiento Electrónico de Barrido (STM) para la caracterización de películas delgadas metálicas. Primeramente se presenta una introducción sobre el microscopio de tunelamiento y su principio de operación, así como un breve repas...
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| Tipo de recurso: | tesis doctoral |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 1995 |
| País: | México |
| Institución: | Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada |
| Repositorio: | Repositorio Institucional CICESE |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | oai:cicese.repositorioinstitucional.mx:1007/3448 |
| Acceso en línea: | http://cicese.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1007/3448 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | info:eu-repo/classification/Autor/Películas delgadas metálicas info:eu-repo/classification/cti/1 info:eu-repo/classification/cti/22 info:eu-repo/classification/cti/2299 |
| Sumario: | Se describen los estudios realizados por la técnica de Microscopía de Tunelamiento Electrónico de Barrido (STM) para la caracterización de películas delgadas metálicas. Primeramente se presenta una introducción sobre el microscopio de tunelamiento y su principio de operación, así como un breve repaso de las teorías que se han construido para explicar su funcionamiento y la obtención de resolución atómica. El primer estudio efectuado es del sistema Au/mica, del cual se realizaron depósitos por evaporac1on a difererites temperaturas del sustrato. Se comprobó la fuerte dependencia del tamaño de los cristalitos con la temperatura del sustrato. Del sistema Pt/grafito, se estudiaron películas evaporadas del orden de fracciones de monocapa y el efecto que tiene el horneado en la morfología de las mismas, no econtrándose efecto alguno en la distribución de tamaño de partículas, cuando menos para los espesores estudiados. Estos resultados son congruentes con el comportamiento esperado en películas delgadas y su dependencia con los diversos factores que intervienen en su crecimiento. En estas películas, se detectaron en la superficie de grafito y alrededor de las partículas de Pt, lo que se conoce como superestructuras electrónicas. Se caracterizan por ser una modulación en la densidad de carga superficial con una periodicidad de (v'3xv'3)R30 ° con respecto a_ la red del grafito y que decaen conforme aumenta la distancia al cúmulo. Para simular teóricamente estas estructuras, se presenta un modelo generalizado basado en la hipótesis de que se trata de un fenómeno de interferencia, sugerido originalmente por Mizes y Foster [Science, 244 (1989), 559) y simplificado por Shedd y Russell [Surf.Sci., 266 (1992),259]. Un resultado importante de este trabajo, es el poder simular superestructuras más complejas que han sido reportadas en la literatura, y proporcionar argumentos para afirmar que éstas se deben a un efecto puramente electrónico y no corresponden a una reconstrucción de la superficie. Como trabajo complementario, se diseñaron y construyeron diversos equipos auxiliares de caracter electrónico y mecánico para la preparación de muestras, así como la programación requerida para la digitalización y procesamiento de 1magenes del microscopio. Además, se inició la construcción (en proceso) de un microscopio de tunelamiento para ultra alto vacío. |
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