Desarrollo de un sistema para obtener ciclos de histéresis de materiales ferroeléctricos utilizando un potenciostato

Se implementó un sistema para medir propiedades ferroeléctricas utilizando un potenciostato/galvanostato (POT/GAL) en un circuito Tower-Sawyer modificado. Una tarjeta de adquisición de datos y una computadora personal fueron usadas para controlar de manera remota el POT/GAL y a través de los puertos...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: J. Guillén-Rodríguez, A. Zapata-Navarro, M. Zapata-Torres, A. Márquez-Herrera
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2009
País:México
Institución:Instituto Tecnológico y de Estudios Superiores de Monterrey
Repositorio:Redalyc-ITESM
OAI Identifier:oai:redalyc.org:94213119001
Acceso en línea:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94213119001
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Física, Astronomía y Matemáticas
Histéresis
Potenciostato
Ferroeléctricos
Descripción
Sumario:Se implementó un sistema para medir propiedades ferroeléctricas utilizando un potenciostato/galvanostato (POT/GAL) en un circuito Tower-Sawyer modificado. Una tarjeta de adquisición de datos y una computadora personal fueron usadas para controlar de manera remota el POT/GAL y a través de los puertos análogos y digitales de entrada y salida fueron programados y leídos el potencial y corriente en las muestras. El POT/GAL fue utilizado debido a su muy alta impedancia de entrada comparada con los circuitos hechos en laboratorios para obtener los ciclos de histéresis de muestras ferroeléctricas. Se desarrolló un software que controla completamente el POT/GAL, así como la amplitud, frecuencia y el tipo de señal aplicada a la muestra. Obtiene los ciclos de histéresis de la polarización espontánea versus potencial eléctrico y despliega los valores del potencial coercitivo y polarización remanente. Para comprobar la funcionalidad de nuestro sistema se caracterizaron capacitores ferroeléctricos de material Pb(ZrxTi1-x)O3 conocido también como PZT (4,000 y 10,000 2 de área y 255 nm de espesor) a diferente potencial(1-9 volts) y frecuencia( 1-45 Hz ) y se compararon los resultados con las mediciones en un equipo de Radiant Technologies Inc. resultando buena concordancia entre ambas mediciones.