Mediciones Interferométricas por subaberturas múltiples
El presente trabajo representa un esfuerzo para solucionar el problema de probar superficies de calidad óptica, por medio de una serie de medidas parciales obtenidas en subaberturas localizadas a lo largo y ancho de la superficie bajo prueba. Este problema se presenta cuando las dimensiones de la su...
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| Tipo de recurso: | tesis doctoral |
| Estado: | Versión aceptada para publicación |
| Fecha de publicación: | 1998 |
| País: | México |
| Institución: | Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica |
| Repositorio: | Repositorio Institucional del INAOE |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | oai:inaoe.repositorioinstitucional.mx:1009/2556 |
| Acceso en línea: | http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/2556 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | info:eu-repo/classification/Interferometry/Interferometry info:eu-repo/classification/stikching/stikching info:eu-repo/classification/large surface testing/large surface testing info:eu-repo/classification/cti/1 info:eu-repo/classification/cti/22 info:eu-repo/classification/cti/2209 |
| Sumario: | El presente trabajo representa un esfuerzo para solucionar el problema de probar superficies de calidad óptica, por medio de una serie de medidas parciales obtenidas en subaberturas localizadas a lo largo y ancho de la superficie bajo prueba. Este problema se presenta cuando las dimensiones de la superficie de referencia son menores que la superficie bajo estudio y cuyas dimensiones son del orden de 1.5 m. o más. En el presente trabajo se ha desarrollado una modificación al método de Otsubo para probar superficie por subaberturas múltiples y se ha visto la factibilidad de dicha propuesta. Además se han logrado conjuntar dos ideas independientes, el método de Otsubo modificado y el método de Chow, que permiten obtener continuidad en las medidas experimentales de las mediciones múltiples y obtener a la vez un polinomio que describa tales mediciones. Con esto se explota y utiliza la información que se puede obtener, cuando las medidas parciales son traslapadas. |
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