Mediciones Interferométricas por subaberturas múltiples

El presente trabajo representa un esfuerzo para solucionar el problema de probar superficies de calidad óptica, por medio de una serie de medidas parciales obtenidas en subaberturas localizadas a lo largo y ancho de la superficie bajo prueba. Este problema se presenta cuando las dimensiones de la su...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor: Fermin-Salomon Granados-Agustin
Tipo de recurso: tesis doctoral
Estado:Versión aceptada para publicación
Fecha de publicación:1998
País:México
Institución:Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica
Repositorio:Repositorio Institucional del INAOE
Idioma:español
OAI Identifier:oai:inaoe.repositorioinstitucional.mx:1009/2556
Acceso en línea:http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/2556
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:info:eu-repo/classification/Interferometry/Interferometry
info:eu-repo/classification/stikching/stikching
info:eu-repo/classification/large surface testing/large surface testing
info:eu-repo/classification/cti/1
info:eu-repo/classification/cti/22
info:eu-repo/classification/cti/2209
Descripción
Sumario:El presente trabajo representa un esfuerzo para solucionar el problema de probar superficies de calidad óptica, por medio de una serie de medidas parciales obtenidas en subaberturas localizadas a lo largo y ancho de la superficie bajo prueba. Este problema se presenta cuando las dimensiones de la superficie de referencia son menores que la superficie bajo estudio y cuyas dimensiones son del orden de 1.5 m. o más. En el presente trabajo se ha desarrollado una modificación al método de Otsubo para probar superficie por subaberturas múltiples y se ha visto la factibilidad de dicha propuesta. Además se han logrado conjuntar dos ideas independientes, el método de Otsubo modificado y el método de Chow, que permiten obtener continuidad en las medidas experimentales de las mediciones múltiples y obtener a la vez un polinomio que describa tales mediciones. Con esto se explota y utiliza la información que se puede obtener, cuando las medidas parciales son traslapadas.