MEDICIÓN DE LA TRAYECTORIA DINAMIA DE UNA PLACA METÁLICA SOMETIDA A SU PRIMER MODO NATURAL DE VIBRACIÓN
"En este trabajo se presenta el estudio del comportamiento observado en una placa rectangular de aluminio, de 5mm de espesor, al ser sometida a vibraciones. El estudio se enfoca en particular para el análisis de dicha placa bajo condiciones de vibraciones debidas a su primer modo fundamental de...
| Autor: | |
|---|---|
| Tipo de recurso: | tesis de maestría |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2006 |
| País: | México |
| Institución: | Centro de Investigaciones en Óptica |
| Repositorio: | Repositorio Institucional CIO |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | oai:cio.repositorioinstitucional.mx:1002/666 |
| Acceso en línea: | http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/666 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | info:eu-repo/classification/AUTOR/INTERFEROMETRÍA, ESPI, PATRONES DE MOTEADO, INTERFERÓMETRO, MODOS DE VIBRACIÓN, PRUEBAS ÓPTICAS NO DESTRUCTIVAS info:eu-repo/classification/cti/1 info:eu-repo/classification/cti/22 info:eu-repo/classification/cti/2209 info:eu-repo/classification/cti/220911 |
| Sumario: | "En este trabajo se presenta el estudio del comportamiento observado en una placa rectangular de aluminio, de 5mm de espesor, al ser sometida a vibraciones. El estudio se enfoca en particular para el análisis de dicha placa bajo condiciones de vibraciones debidas a su primer modo fundamental de vibración (320 Hz). Se hace vibrar la placa en forma senosoidal por medio de una bocina dispuesta justo detrás de la placa con el fin de no alterar su comportamiento por contacto. Se analizan patrones de franjas formados por interferometría de patrones de moteado. Este análisis arroja valores de amplitud que son graficados con respecto a la imagen capturada o, dicho de otra forma, contra el respectivo interferograma. Se utiliza una cámara rápida que captura 4000 imágenes por segundo, lo que permite tener una imagen cada 0.25 mili segundos. Es importante hacer notar que todas las mediciones aquí mostradas son desplazamientos fuera del plano debido al arreglo óptico." |
|---|