Caracterización de los polímeros fotorrefractivos basados en poly(N-vinylcarbazole) mediante técnicas de las rejillas dinámicas
Se presentan los resultados de caracterización de los polímeros fotorrefractivos (FR) basados en PVK (poly(Nvinylcarbazole))por medio de las técnicas de las rejillas dinámicas. Las técnicas aplicadas fueron la mezcla de dosondas (TWM por sus siglas en ingles) modulada en fase y la detección de corri...
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2003 |
| País: | México |
| Institución: | Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica |
| Repositorio: | Redalyc-INAOE |
| OAI Identifier: | oai:redalyc.org:94216403 |
| Acceso en línea: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94216403 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Física, Astronomía y Matemáticas Fuerza foto electromotriz Efecto fotorrefractivo Polímero fotorrefractivo |
| Sumario: | Se presentan los resultados de caracterización de los polímeros fotorrefractivos (FR) basados en PVK (poly(Nvinylcarbazole))por medio de las técnicas de las rejillas dinámicas. Las técnicas aplicadas fueron la mezcla de dosondas (TWM por sus siglas en ingles) modulada en fase y la detección de corrientes alternas basadas en el efecto defuerza foto-electromotriz (P-EMF por sus siglas en ingles) de estado no estacionario. En ambas técnicas el materialfue iluminado por una rejilla dinámica de luz, i.e. por un patrón de interferencia oscilante. La técnica de TWMdetecta la intensidad del haz difractado de la rejilla del índice de refracción formada en el material y permite evaluaramplitud y la fase de la rejilla del campo de carga espacial. La técnica de P-EMF utiliza la detección de corrientealterna que se forma debido a la interacción de la rejilla de fotoconductividad y la rejilla del campo de carga espacial.Esta técnica permite determinar el tiempo de vida de portadores mayoritarios y el tiempo de relajación dieléctrica |
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