Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixta

En la actualidad, la rápida evolución de la capacidad de integración en tecnologías CMOS ha llevado a la industria de los circuitos integrados hacia sistemas complejos en los que coexisten bloques analógicos con componentes digitales [1]. Esto ha dado lugar a los, así llamados, SoCs (Sistemas on-chi...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor: Barragán Asián, Manuel José
Tipo de recurso: tesis doctoral
Fecha de publicación:2009
País:España
Institución:Universidad de Sevilla (US)
Repositorio:idUS. Depósito de Investigación de la Universidad de Sevilla
OAI Identifier:oai:idus.us.es:11441/24086
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/11441/24086
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Circuitos electrónicos
Circuitos integrados
id ES_fe9ebe93839b980d7da89f3cb41b1771
oai_identifier_str oai:idus.us.es:11441/24086
network_acronym_str ES
network_name_str España
repository_id_str
spelling Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixtaBarragán Asián, Manuel JoséCircuitos electrónicosCircuitos integradosEn la actualidad, la rápida evolución de la capacidad de integración en tecnologías CMOS ha llevado a la industria de los circuitos integrados hacia sistemas complejos en los que coexisten bloques analógicos con componentes digitales [1]. Esto ha dado lugar a los, así llamados, SoCs (Sistemas on-chip, Systems on-Chip) en los que un sistema completo, compuesto de subsistemas analógicos, digitales y de señal mixta, es integrado sobre un mismo sustrato. Debido a este incremento en la complejidad, y a las restricciones de acceso a los nodos internos propias de los circuitos integrados, la labor de testar este tipo de sistemas se ha convertido en una componente importante en el coste de producción de un circuito integrado [2]-[5]. Coste que, además, no escala con el volumen de producción, como sería el caso, por ejemplo, de los equipos de test. Además, el problema del testado se complica a medida que crece la complejidad de la parte analógica del chip.Tanto es así que el test se está convirtiendo en un gran cuello de botella para la industria. De hecho, el SIA Roadmap for Semiconductors [2] identifica el test como uno de los problemas clave para la viabilidad económica de los futuros mercados de sistemas on-chip. Testar un circuito integrado puede definirse como el proceso de verificar si éste cumple con las especificaciones para las que fue diseñado. Desde el punto de vista comercial, el test garantiza al posible comprador de un circuito integrado que las prestaciones del sistema se corresponden con la hoja de especificaciones que publica el vendedor. La opción obvia consiste en medir directamente el conjunto de especificaciones y comparar. Esta familia de test se conoce en la industria como test funcional. Otra opción consiste en localizar la presencia de defectos en el circuito. Dado que un circuito libre de defectos debe cumplir sus especificaciones por diseño, siempre dentro de las |Vázquez García de la Vega, DiegoElectrónica y Electromagnetismo2009info:eu-repo/semantics/doctoralThesisapplication/pdfapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11441/24086reponame:idUS. Depósito de Investigación de la Universidad de Sevillainstname:Universidad de Sevilla (US)Españolinfo:eu-repo/semantics/openAccessoai:idus.us.es:11441/240862026-06-17T12:51:07Z
dc.title.none.fl_str_mv Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixta
title Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixta
spellingShingle Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixta
Barragán Asián, Manuel José
Circuitos electrónicos
Circuitos integrados
title_short Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixta
title_full Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixta
title_fullStr Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixta
title_full_unstemmed Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixta
title_sort Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixta
dc.creator.none.fl_str_mv Barragán Asián, Manuel José
author Barragán Asián, Manuel José
author_facet Barragán Asián, Manuel José
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv Vázquez García de la Vega, Diego
Electrónica y Electromagnetismo
dc.subject.none.fl_str_mv Circuitos electrónicos
Circuitos integrados
topic Circuitos electrónicos
Circuitos integrados
description En la actualidad, la rápida evolución de la capacidad de integración en tecnologías CMOS ha llevado a la industria de los circuitos integrados hacia sistemas complejos en los que coexisten bloques analógicos con componentes digitales [1]. Esto ha dado lugar a los, así llamados, SoCs (Sistemas on-chip, Systems on-Chip) en los que un sistema completo, compuesto de subsistemas analógicos, digitales y de señal mixta, es integrado sobre un mismo sustrato. Debido a este incremento en la complejidad, y a las restricciones de acceso a los nodos internos propias de los circuitos integrados, la labor de testar este tipo de sistemas se ha convertido en una componente importante en el coste de producción de un circuito integrado [2]-[5]. Coste que, además, no escala con el volumen de producción, como sería el caso, por ejemplo, de los equipos de test. Además, el problema del testado se complica a medida que crece la complejidad de la parte analógica del chip.Tanto es así que el test se está convirtiendo en un gran cuello de botella para la industria. De hecho, el SIA Roadmap for Semiconductors [2] identifica el test como uno de los problemas clave para la viabilidad económica de los futuros mercados de sistemas on-chip. Testar un circuito integrado puede definirse como el proceso de verificar si éste cumple con las especificaciones para las que fue diseñado. Desde el punto de vista comercial, el test garantiza al posible comprador de un circuito integrado que las prestaciones del sistema se corresponden con la hoja de especificaciones que publica el vendedor. La opción obvia consiste en medir directamente el conjunto de especificaciones y comparar. Esta familia de test se conoce en la industria como test funcional. Otra opción consiste en localizar la presencia de defectos en el circuito. Dado que un circuito libre de defectos debe cumplir sus especificaciones por diseño, siempre dentro de las |
publishDate 2009
dc.date.none.fl_str_mv 2009
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
format doctoralThesis
dc.identifier.none.fl_str_mv http://hdl.handle.net/11441/24086
url http://hdl.handle.net/11441/24086
dc.language.none.fl_str_mv Español
language_invalid_str_mv Español
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:idUS. Depósito de Investigación de la Universidad de Sevilla
instname:Universidad de Sevilla (US)
instname_str Universidad de Sevilla (US)
reponame_str idUS. Depósito de Investigación de la Universidad de Sevilla
collection idUS. Depósito de Investigación de la Universidad de Sevilla
repository.name.fl_str_mv
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1869425701363384320
score 15,301603