Converse flexoelectricity yields large piezoresponse force microscopy signals in non-piezoelectric materials

Converse flexoelectricity is a mechanical stress induced by an electric polarization gradient. It can appear in any material, irrespective of symmetry, whenever there is an inhomogeneous electric field distribution. This situation invariably happens in piezoresponse force microscopy (PFM), which is...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Abdollahi Hosnijeh, Amir|||0000-0003-0363-4984, Domingo, Neus, Arias Vicente, Irene|||0000-0002-6761-3499, Catalan, Gustau
Tipo de recurso: artículo
Fecha de publicación:2019
País:España
Institución:Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Repositorio:UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Idioma:inglés
OAI Identifier:oai:upcommons.upc.edu:2117/169826
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/2117/169826
https://dx.doi.org/10.1038/s41467-019-09266-y
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Dynamics
Automatic control
Operations research
Dinàmica
Control automàtic
Investigació operativa
Classificació AMS::70 Mechanics of particles and systems::70F Dynamics of a system of particles, including celestial mechanics
Classificació AMS::70 Mechanics of particles and systems::70Q05 Control of mechanical systems
Classificació AMS::90 Operations research, mathematical programming::90B Operations research and management science
Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Anàlisi numèrica::Mètodes numèrics
Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Matemàtica aplicada a les ciències
Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Investigació operativa::Simulació
Descripción
Sumario:Converse flexoelectricity is a mechanical stress induced by an electric polarization gradient. It can appear in any material, irrespective of symmetry, whenever there is an inhomogeneous electric field distribution. This situation invariably happens in piezoresponse force microscopy (PFM), which is a technique whereby a voltage is delivered to the tip of an atomic force microscope in order to stimulate and probe piezoelectricity at the nanoscale. While PFM is the premier technique for studying ferroelectricity and piezoelectricity at the nanoscale, here we show, theoretically and experimentally, that large effective piezoelectric coefficients can be measured in non-piezoelectric dielectrics due to converse flexoelectricity.