Técnicas de caracterización petrológicas (I): Microscopía Óptica de Polarización (MOP) y Difracción de Rayos X (DRX)
| Autor: | |
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| Tipo de recurso: | capítulo de libro |
| Fecha de publicación: | 2012 |
| País: | España |
| Institución: | Universidad Complutense de Madrid (UCM) |
| Repositorio: | Docta Complutense |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | oai:docta.ucm.es:20.500.14352/45694 |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.14352/45694 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | 548.73 552.08 Geomateriales Conservación del Patrimonio Patrimonio cultural Petrología Microscopía Óptica de Polarización Difracción de Rayos X Cristalografía (Geología) |
| Descripción no disponible. |