Atomic force microscopy: probing the nanoworld
Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166
| Autores: | , |
|---|---|
| Formato: | capítulo de livro |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2012 |
| País: | España |
| Recursos: | Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya) |
| Repositorio: | Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya |
| OAI Identifier: | oai:recercat.cat:2445/32162 |
| Acesso em linha: | https://hdl.handle.net/2445/32162 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | Microscòpia de força atòmica Nanotecnologia Anàlisi instrumental Atomic force microscopy Nanotechnology Instrumental analysis |
| Resumo: | Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166 |
|---|