Development of novel 3D classification methods for Cryo-Electron Microscopy

Detalles Bibliográficos
Autor: Lauzirika Zarrabeitia, Oier
Tipo de recurso: tesis de maestría
Fecha de publicación:2024
País:España
Institución:Universidad Politécnica de Madrid
Repositorio:Archivo Digital UPM
OAI Identifier:oai:oa.upm.es:85104
Acceso en línea:https://oa.upm.es/85104/
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:CryoEM
Single Particle Analysis
3D classification
graph theory
Descripción
Descripción no disponible.