Achieving junction stability in heavily doped epitaxial Si:P

Producción Científica

Detalles Bibliográficos
Autores: Tsai, Chun-Hsiung, Hsu, Yu-Hsiang, Santos Tejido, Iván, Pelaz Montes, María Lourdes, Kowalski, Jeffrey, Liou, J.W., Woon, Wei-Yen, Lee, Chih-Kung
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión aceptada para publicación
Fecha de publicación:2021
País:España
Institución:Universidad de Valladolid
Repositorio:UVaDOC. Repositorio Documental de la Universidad de Valladolid
OAI Identifier:oai:uvadoc.uva.es:10324/45124
Acceso en línea:https://doi.org/10.1016/j.mssp.2021.105672
http://uvadoc.uva.es/handle/10324/45124
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Microondas
Doping
Dopaje
Descripción
Sumario:Producción Científica