Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): principles and applications
Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166
| Autor: | |
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| Formato: | capítulo de livro |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2012 |
| País: | España |
| Recursos: | Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya) |
| Repositorio: | Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya |
| OAI Identifier: | oai:recercat.cat:2445/32165 |
| Acesso em linha: | https://hdl.handle.net/2445/32165 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | Espectrometria de masses Anàlisi instrumental Mass spectrometry Instrumental analysis |
| Resumo: | Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166 |
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