Preparación de agregados orientados de arcilla mediante extensor
Se detalla un método nuevo para la preparación de agregados orientados de arcilla para sus análisis por Difracción de Rayos X. Se trata de emplear un extensor para obtener un grosor constante de material, que por su delgadez seca rápidamente, economizándose tiempo y espacio en el laboratorio, obteni...
| Autores: | , , |
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 1982 |
| País: | España |
| Institución: | Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya) |
| Repositorio: | Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya |
| OAI Identifier: | oai:recercat.cat:2445/65405 |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/2445/65405 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Argila Difracció de raigs X Clay X-rays diffraction |
| Sumario: | Se detalla un método nuevo para la preparación de agregados orientados de arcilla para sus análisis por Difracción de Rayos X. Se trata de emplear un extensor para obtener un grosor constante de material, que por su delgadez seca rápidamente, economizándose tiempo y espacio en el laboratorio, obteniéndose además mejores resultados que con el método convencional. |
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