Espectroscopia de ímpedancía de monocristales 4.7 mol% Y-PSZ
El ajuste mediante el método Rietveld del espectro de difracción de rayos-X de un monocristal Zr02-4.7mol%Y203, muestra la existencia de una microestructura de dos fases t+t'. Los espectros de impedancia de este material determinan que su respuesta eléctrica esta controlada por los mismos proce...
| Autores: | , |
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 1995 |
| País: | España |
| Institución: | Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
| Repositorio: | DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC |
| OAI Identifier: | oai:digital.csic.es:10261/48462 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10261/48462 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Difracción microestructura |
| Sumario: | El ajuste mediante el método Rietveld del espectro de difracción de rayos-X de un monocristal Zr02-4.7mol%Y203, muestra la existencia de una microestructura de dos fases t+t'. Los espectros de impedancia de este material determinan que su respuesta eléctrica esta controlada por los mismos procesos que en monocristales de circonia totalmente estabilizados con 9.5 mol% de itria. El análisis de la impedancia con un modelo circuital de una resistencia en paralelo con un condensador dependiente de la frecuencia, como una función tipo Fiavriliak- Negami, permite determinar las energías de activación de 0.94 eV y 1.10 eV para la conductividad iónica en las muestras de dos fases (f+f ) y una fase (c), respectivamente. |
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