Preface to the twelfth international workshop on low energy microscopy and photoemission electron microscopy (LEEM/PEEM 12)

Editorial, 2 pags., 1 fot.

Detalles Bibliográficos
Autores: Foerster, Michael, de la Figuera, Juan, Palacio, Irene, Aballe, Lucía
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión aceptada para publicación
Fecha de publicación:2024
País:España
Institución:Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:oai:digital.csic.es:10261/360716
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/10261/360716
https://api.elsevier.com/content/abstract/scopus_id/85179492535
Access Level:acceso abierto
Descripción
Sumario:Editorial, 2 pags., 1 fot.

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