An insight into the present capabilities of national metrology institutes for measuring sparkle

18 pags., 15 figs., 1 tab.

Detalles Bibliográficos
Autores: Ferrero, Alejandro, Basic, N., Campos Acosta, Joaquín, Pastuschek, M., Perales, E., Porrovecchio, G., Šmid, M., Schirmacher, A., Velázquez, J.L., Martínez-Verdú, F.M.
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2020
País:España
Institución:Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:oai:digital.csic.es:10261/229754
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/10261/229754
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Sparkle
Texture
Reflectance
Contrast threshold
Gonio-spectrophotometry
Descripción
Sumario:18 pags., 15 figs., 1 tab.