Spectroscopic ellipsometry study of Cu2Zn(GexSi1-x)Se4 bulk poly-crystals

5 pags., 3 figs., 2 tabs.

Detalles Bibliográficos
Autores:	Hajdeu-Chicarosh, E., Levcenko, S., Serna, Rosalía, Bodnar, I. V., Victorov, I. A., Iaseniuc, Oxana, Caballero, Raquel, Merino, J. M., Arushanov, E., León, Máximo
Tipo de recurso:	artículo
Estado:	Versión aceptada para publicación
Fecha de publicación:	2022
País:	España
Institución:	Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:	DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:	oai:digital.csic.es:10261/284595
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10261/284595
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Cu2Zn(GexSi1-x)Se4 alloys Ellipsometry Polycrystals Kesterites Optical spectroscopy Raman spectroscopy

Descripción
Sumario:	5 pags., 3 figs., 2 tabs.