Caracterización mineralógica de materias primas cerámicas por métodos cuantitativos de difracción de rayos x
[ES] El objetivo de este trabajo es la caracterización de fases minerales presentes en materias primas utilizadas en la industria cerámica. Para ello se utilizan dos métodos cuantitativos basados en la difracción de rayos X, el método de Rietveld y un método sin estándar. Los resultados obtenidos po...
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2002 |
| País: | España |
| Institución: | Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
| Repositorio: | DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC |
| OAI Identifier: | oai:digital.csic.es:10261/4670 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10261/4670 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Materias primas cerámicas Cuantitativa por difracción de rayos X Composiciones mineralógicas reales y normativas Ceramic raw materials Quantitative X-ray diffraction Actual and normative mineralogical compositions |
| Sumario: | [ES] El objetivo de este trabajo es la caracterización de fases minerales presentes en materias primas utilizadas en la industria cerámica. Para ello se utilizan dos métodos cuantitativos basados en la difracción de rayos X, el método de Rietveld y un método sin estándar. Los resultados obtenidos por difracción rayos X de estos materiales policristalinos se comparan con los correspondientes análisis químicos y la composición normativa calculada. La precisión y reproducibilidad de los resultados obtenidos, en concordancia con los del análisis químico, son una de las más importantes ventajas de la difractometría cuantitativa que facilitan su utilización en la industria cerámica en el control de las fases minerales presentes en las materias primas. |
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