Fast, quantitative and high resolution mapping of viscoelastic properties with bimodal AFM

Electronic supplementary information (ESI) available. See DOI: 10.1039/c9nr04396a

Detalles Bibliográficos
Autores:	Benaglia, Simone, Amo, Carlos A., García García, Ricardo
Tipo de recurso:	artículo
Estado:	Versión publicada
Fecha de publicación:	2019
País:	España
Institución:	Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:	DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:	oai:digital.csic.es:10261/189448
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10261/189448
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Viscoelastic properties Nanoscale spatial resolution Atomic force microscopy Viscoelasticidad en la nanoescala Microscopio de fuerza atómica

Descripción
Sumario:	Electronic supplementary information (ESI) available. See DOI: 10.1039/c9nr04396a