A Universal Testbed for IoT Wireless Technologies: Abstracting Latency, Error Rate and Stability from the IoT Protocol and Hardware Platform

Detalles Bibliográficos
Autores:	Saavedra Darriba, Edgar\|\|\|0000-0001-8649-5849, Mascaraque Greciano, Laura\|\|\|0000-0002-5567-6628, Calderón, Gonzalo\|\|\|0000-0003-0940-8814, Campo Jiménez, Guillermo del\|\|\|0000-0002-2836-8013, Santamaría Galdón, María Asunción\|\|\|0000-0002-4908-882X
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2022
País:	España
Institución:	Universidad Politécnica de Madrid
Repositorio:	Archivo Digital UPM
OAI Identifier:	oai:oa.upm.es:79369
Acceso en línea:	https://oa.upm.es/79369/
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	testbed latency error rate stability performance IoT IIoT LPWAN wireless communications

Descripción
Descripción no disponible.