On bias, variance, overfitting, gold standard and consensus in single-particle analysis by cryo-electron microscopy
Artículo escrito por un elevado número de autores, solo se referencian el que aparece en primer lugar, los autores pertenecientes a la UAM y el nombre del grupo de colaboración, si lo hubiere
| Autores: | , , , |
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2022 |
| País: | España |
| Institución: | Universidad Autónoma de Madrid |
| Repositorio: | Biblos-e Archivo. Repositorio Institucional de la UAM |
| Idioma: | inglés |
| OAI Identifier: | oai:repositorio.uam.es:10486/711161 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10486/711161 https://dx.doi.org/10.1107/S2059798322001978 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | single-particle analysis cryo-electron microscopy parameter estimation image processing bias variance overfitting gold standard Informática |
| Sumario: | Artículo escrito por un elevado número de autores, solo se referencian el que aparece en primer lugar, los autores pertenecientes a la UAM y el nombre del grupo de colaboración, si lo hubiere |
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