Modeling the Effect of SEUs on the Configuration Memory of SRAM-FPGA based CNN Accelerators
| Autores: | , , , , , , |
|---|---|
| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2024 |
| País: | España |
| Institución: | Universidad Politécnica de Madrid |
| Repositorio: | Archivo Digital UPM |
| OAI Identifier: | oai:oa.upm.es:83632 |
| Acceso en línea: | https://oa.upm.es/83632/ |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Field programmable gate arrays Circuit faults Reliability Hardware Software Reliability engineering Fault tolerant systems Convolutional Neural Networks Soft Errors FPGA Accelerator Fault Injection Modeling Simulator |
| Descripción no disponible. |