Automatic detection of alignment errors in cryo-electron tomography

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Detalles Bibliográficos
Autores: de Isidro-Gómez, F P, Vilas, J. L., Carazo, José M., Sorzano, Carlos Óscar S.
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2024
País:España
Institución:Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:oai:digital.csic.es:10261/379751
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/10261/379751
https://api.elsevier.com/content/abstract/scopus_id/85212549286
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Cryo-electron tomography
Electron microscopy
Electron tomography
Image processing
Structural biology
Tilt-series alignment
Descripción
Sumario:Supplementary material related to this article can be found online at https://doi.org/10.1016/j.jsb.2024.108153