Los minerales a la luz del TEM. Algo más que Alta Resolución
5 páginas, 2 figuras.
| Autor: | |
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2008 |
| País: | España |
| Institución: | Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
| Repositorio: | DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC |
| OAI Identifier: | oai:digital.csic.es:10261/28880 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10261/28880 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Transmission Electron Microscopy TEM X-Ray microdifraction X-ray microanalysis Microscopía electrónica de transmisión Microdifracción de rayos-X Microanálisis de rayos-X |
| Sumario: | 5 páginas, 2 figuras. |
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