Bayesian model for subpixel uncertainty determination in optical measurements
| Autores: | , , , , |
|---|---|
| Formato: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2017 |
| País: | España |
| Recursos: | Universidad Politécnica de Madrid |
| Repositorio: | Archivo Digital UPM |
| OAI Identifier: | oai:oa.upm.es:53331 |
| Acesso em linha: | https://oa.upm.es/53331/ |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | subpixel approximation bayesian probability optical measurement uncertainty Monte Carlo method |
| Descrição não disponível. |