Estructura y porosidad de recubrimientos híbridos de SiO2

[ES] El estudio de la porosidad de los recubrimientos h bridos de SiO2 obtenidos por sol-gel es importante dado que tanto el porcentaje como la morfolog a de los poros determinan sus propiedades m s significativas. En este trabajo se presentan dos metodolog as para caracterizar la porosidad en capas...

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Detalles Bibliográficos
Autores: Durán, Alicia, Gallardo Serra, Ivonne Janet, Galliano, P.
Tipo de recurso: artículo
Fecha de publicación:2001
País:España
Institución:Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:oai:digital.csic.es:10261/4758
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/10261/4758
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Estructura
Porosidad
Recubrimientos por sol-gel
Elipsometría
Espectroscopía infrarroja
Structure
Porosity
Sol-gel coatings
Ellipsometry
Infrared spectroscopy
Descripción
Sumario:[ES] El estudio de la porosidad de los recubrimientos h bridos de SiO2 obtenidos por sol-gel es importante dado que tanto el porcentaje como la morfolog a de los poros determinan sus propiedades m s significativas. En este trabajo se presentan dos metodolog as para caracterizar la porosidad en capas de MTES/TEOS en funci n del tratamiento t rmico y la composici n. En primer lugar se ha determinado el porcentaje de porosidad mediante elipsometr a, modificando el ndice de refracci n del SiO2 v treo para un sistema h brido, utilizando el concepto de propiedades molares aditivas, empleado habitualmente en el estudio de mezclas polim ricas. Por otro lado, se analiz y optimiz un m todo que involucra el an lisis de los espectros FT-IR de las capas de SiO2 en la regi n comprendida entre 1300 y 960 cm-1. El ajuste y deconvoluci n de los espectros ha permitido determinar cuando son necesarias una o dos curvas para ajustar el hombro que afecta a la banda principal del SiO2 (a 1080cm-1 aproximadamente), y su evoluci n con la temperatura. Una de las bandas se ha asignado a la porosidad de la capa y la otra a la densificaci n de la red. Ambas metodolog as conducen a resultados coherentes y similares, probando la consistencia de los modelos.