Supplemental material at [url will be inserted by publisher] contains: diffraction pattern and structural data of SnBi2Te4; core levels measurements and a low energy electron diffraction pattern; a linear fit of the topological surface state.
Detalles Bibliográficos
| Autores: |
Eremeev, Sergey V.,
De Luca, Oreste,
Sheverdyaeva, P. M.,
Ferrari, Luisa,
Matetskiy, A. V.,
Di Santo, Giovanni,
Petaccia, Luca,
Crovara, C.,
Caruso, Fabio,
Papagno, Marco,
Agostino, Raffaele G.,
Aliev, Ziya S.,
Moras, Paolo,
Carbone, Carlo,
Chulkov, Eugene V.,
Pacilè, Daniela |
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| Tipo de recurso: | conjunto de datos
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| Fecha de publicación: | 2023 |
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| País: | España |
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| Institución: | Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
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| Repositorio: | DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC |
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| OAI Identifier: | oai:digital.csic.es:10261/310997 |
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| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10261/310997
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| Access Level: | acceso abierto |
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