Rafí, J. M., Simoen, E., Mercha, A., Hayama, K., Campabadal, F., Ohyama, H., & Claeys, C. (2007). Electrical stress on irradiated thin gate oxide partially depleted SOI nMOSFETs.
Citação norma ChicagoRafí, Joan Marc, E. Simoen, A. Mercha, K. Hayama, Francesca Campabadal, H. Ohyama, e C. Claeys. Electrical Stress On Irradiated Thin Gate Oxide Partially Depleted SOI NMOSFETs. 2007.
Citação norma MLARafí, Joan Marc, et al. Electrical Stress On Irradiated Thin Gate Oxide Partially Depleted SOI NMOSFETs. 2007.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.