Albonetti, C., Chiodini, S., Annibale, P., Stoliar, P., Martínez, R. V., García García, R., & Biscarini, F. (2020). Quantitative Electrostatic Force Microscopy-Phase on Silicon Oxide Nanostructures.
Citación estilo ChicagoAlbonetti, Cristiano, Stefano Chiodini, Paolo Annibale, Pablo Stoliar, Ramsés V. Martínez, Ricardo García García, y Fabio Biscarini. Quantitative Electrostatic Force Microscopy-Phase On Silicon Oxide Nanostructures. 2020.
Cita MLAAlbonetti, Cristiano, et al. Quantitative Electrostatic Force Microscopy-Phase On Silicon Oxide Nanostructures. 2020.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.