Standards for the Characterization of Endurance in Resistive Switching Devices

Producción Científica

Detalles Bibliográficos
Autores:	Lanza, Mario, Waser, Rainer, Ielmini, Daniele, Yang, J. Joshua, Goux, Ludovic, Suñe, Jordi, Kenyon, Anthony Joseph, Mehonic, Adnan, Spiga, Sabina, Rana, Vikas, Wiefels, Stefan, Menzel, Stephan, Valov, Ilia, Villena, Marco A., Miranda, Enrique, Jing, Xu, Campabadal Segura, Francesca, González, Mireia B., Aguirre, Fernando, Palumbo, Felix, Zhu, Kaichen, Roldan, Juan Bautista, Puglisi, Francesco Maria, Larcher, Luca, Hou, Tuo-Hung, Prodromakis, Themis, Yang, Yuchao, Huang, Peng, Wan, Tianqing, Chai, Yang, Pey, Kin Leong, Raghavan, Nagarajan, Dueñas Carazo, Salvador, Wang, Tao, Xia, Qiangfei, Pazos, Sebastian
Tipo de recurso:	artículo
Estado:	Versión publicada
Fecha de publicación:	2021
País:	España
Institución:	Universidad de Valladolid
Repositorio:	UVaDOC. Repositorio Documental de la Universidad de Valladolid
OAI Identifier:	oai:uvadoc.uva.es:10324/66210
Acceso en línea:	https://doi.org/10.1021/acsnano.1c06980 https://uvadoc.uva.es/handle/10324/66210
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Resistive Switching Memristor Memory Variability Reliability Characterization Metal-oxide Endurance

Descripción
Sumario:	Producción Científica