Lifetime of electret microphones by thermal degradation analysis via electroacoustic measurements

Detalhes bibliográficos
Autores: Nogueira Díaz, Eduardo|||0000-0002-3405-7553, Sancho Gil, Juan|||0000-0002-3993-9993, Sánchez Bote, José Luis|||0000-0003-4017-8877
Tipo de documento: artigo
Data de publicação:2018
País:España
Recursos:Universidad Politécnica de Madrid
Repositório:Archivo Digital UPM
OAI Identifier:oai:oa.upm.es:54859
Acesso em linha:https://oa.upm.es/54859/
Access Level:Acceso aberto
Palavra-chave:Electret microphones
Reliability
Electroacoustic degradation
Descrição
Descrição não disponível.