Evaluation of the dielectric function of colloidal Cd1 − xHgxTe quantum dot films by spectroscopic ellipsometry

Bejaoui, A. et al.

Detalles Bibliográficos
Autores: Bejaoui, A., Alonso Carmona, M. Isabel, Garriga Bacardi, Miquel, Campoy Quiles, Mariano, Goñi, Alejandro R., Zapien, J. Antonio
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión aceptada para publicación
Fecha de publicación:2017
País:España
Institución:Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:oai:digital.csic.es:10261/155949
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/10261/155949
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Cd1 − xHgxTe
Colloidal quantum dots
Spectroscopic ellipsometry
Ion exchange
Dielectric function
Descripción
Sumario:Bejaoui, A. et al.