Cita APA

Velayudhan, V. (2016). TCAD study of interface traps-related variability in ultra-scaled MOSFETs.

Citación estilo Chicago

Velayudhan, Vikas. TCAD Study of Interface Traps-related Variability in Ultra-scaled MOSFETs. 2016.

Cita MLA

Velayudhan, Vikas. TCAD Study of Interface Traps-related Variability in Ultra-scaled MOSFETs. 2016.

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