Femtosecond-resolved ablation dynamics of Si in the near field of a small dielectric particle

9 pags, 7 figs

Detalles Bibliográficos
Autores:	Kühler, Paul, Puerto, D., Mosbacher, M., Leiderer, Paul, García de Abajo, Francisco Javier, Siegel, Jan, Solís Céspedes, Javier
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2013
País:	España
Institución:	Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:	DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:	oai:digital.csic.es:10261/243714
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10261/243714
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Crystalline Si Fs-resolved microscopy Laser ablation Near-field enhancement Ultrafast dynamics

Descripción
Sumario:	9 pags, 7 figs