Determinación de Tensiones Residuales Superficiales y en Capas por Difracción de RayosX
En el presente trabajo se lleva a cabo una revisión general de la técnica de medida de tensiones residuales superficiales y en capas por difracción de rayos X. La primera parte trata de revisar los fundamentos necesarios. Se explican la dirección de medida y la profundidad de información en la difra...
| Autor: | |
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| Formato: | artículo |
| Fecha de publicación: | 1997 |
| País: | España |
| Recursos: | Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
| Repositorio: | DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC |
| OAI Identifier: | oai:digital.csic.es:10261/49895 |
| Acesso em linha: | http://hdl.handle.net/10261/49895 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | difracción de rayos X tensiones residuales |
| Resumo: | En el presente trabajo se lleva a cabo una revisión general de la técnica de medida de tensiones residuales superficiales y en capas por difracción de rayos X. La primera parte trata de revisar los fundamentos necesarios. Se explican la dirección de medida y la profundidad de información en la difracción de rayos X para poder entender cuales son los espaciados que medimos. También se revisan las relaciones elásticas tensión-deformación para comprender como se relacionan estos espaciados al estado de tensiones presente en el material. La segunda parte suministra los detalles técnicos y los cálculos necesarios para medir bien la suma de tensiones en una superficie o bien la tensión en una dirección dada de la superficie. Finalmente se describen modificaciones para los casos especiales de capas finas y materiales texturados y se discuten algunas posibles fuentes de errores. |
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